涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
五。基本配置:
主机（含NF探头）一部 、5片校准片 、鉄/铝基体各一个 、 说明书、合格证、保修卡、装箱卡、仪器箱、外包装箱 等等
石家庄兰宇科技还供应上述产品的同类产品：涂层测厚仪,超声波测厚仪，探伤仪，硬度计，粗糙度仪，电火花检测仪，风速计，噪音计，色差仪，光泽度仪等等
涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
厚度测试仪的特征：
1. 微电脑控制、液晶显示
2. 菜单式界面、PVC操作面板
3. 接触式测量
4. 测头自动升降
5. 自动进样
6. 手动、自动双重测量模式
7. 数据实时显示、自动统计
8. 显示值、小值、平均值和统计偏差
9. 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
10.标准接触面积、测量压力（非标可选）
11.显示值、小值、平均值和统计偏差
12.标准量块标定
13.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输