四。主要技术指标
使用环境温度：0～40℃
电源：镍氢电池 3V
外型尺寸：120×80×30mm
重量：200g
测量范围：0～1250μm
测量误差：（2%H+1） 二点校准精度1％
主要功能
二种校准方法： 一点校准、二点校准
显示分辨率： 1μm
存储:存储100个数据
标准偏差（S.DEV)
有两种测量方式：连续测量和单次测量
有两种关机方式：手动关机和自动关机
有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；
有音乐声随时对操作进行提示
有电源欠压指示功能 ,背光设置.
错误提示功能
激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。