涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
三．适用范围
兰宇测厚仪应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。 是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。
四。主要技术指标
使用环境温度：0～40℃
电源：镍氢电池 3V
外型尺寸：120×80×30mm
重量：200g
测量范围：0～1250μm
测量误差：（2%H+1） 二点校准精度1％
主要功能
二种校准方法： 一点校准、二点校准
显示分辨率： 1μm
存储:存储100个数据
标准偏差（S.DEV)
有两种测量方式：连续测量和单次测量
有两种关机方式：手动关机和自动关机
有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；
有音乐声随时对操作进行提示
有电源欠压指示功能 ,背光设置.
错误提示功能
涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。