磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。
涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
厚度测试仪的特征：
1. 微电脑控制、液晶显示
2. 菜单式界面、PVC操作面板
3. 接触式测量
4. 测头自动升降
5. 自动进样
6. 手动、自动双重测量模式
7. 数据实时显示、自动统计
8. 显示值、小值、平均值和统计偏差
9. 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
10.标准接触面积、测量压力（非标可选）
11.显示值、小值、平均值和统计偏差
12.标准量块标定
13.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输