测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
五。基本配置:
主机（含NF探头）一部 、5片校准片 、鉄/铝基体各一个 、 说明书、合格证、保修卡、装箱卡、仪器箱、外包装箱 等等
石家庄兰宇科技还供应上述产品的同类产品：涂层测厚仪,超声波测厚仪，探伤仪，硬度计，粗糙度仪，电火花检测仪，风速计，噪音计，色差仪，光泽度仪等等
薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
厚度测试仪的特征：
1. 微电脑控制、液晶显示
2. 菜单式界面、PVC操作面板
3. 接触式测量
4. 测头自动升降
5. 自动进样
6. 手动、自动双重测量模式
7. 数据实时显示、自动统计
8. 显示值、小值、平均值和统计偏差
9. 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
10.标准接触面积、测量压力（非标可选）
11.显示值、小值、平均值和统计偏差
12.标准量块标定
13.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输