同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
四。主要技术指标
使用环境温度：0～40℃
电源：镍氢电池 3V
外型尺寸：120×80×30mm
重量：200g
测量范围：0～1250μm
测量误差：（2%H+1） 二点校准精度1％
主要功能
二种校准方法： 一点校准、二点校准
显示分辨率： 1μm
存储:存储100个数据
标准偏差（S.DEV)
有两种测量方式：连续测量和单次测量
有两种关机方式：手动关机和自动关机
有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；
有音乐声随时对操作进行提示
有电源欠压指示功能 ,背光设置.
错误提示功能
激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
使用任何超声波测厚仪，当被测材料的厚度降到探头使用下限以下时，将导致测量误差，必要时，小极限厚度可用试块比较法测得。
当测量超薄材料时，有时会发生一种称为“双重折射”的错误结果，它的现象为：显示读数是实际厚度的二倍；另一种错误结果被称为“脉冲包络、循环跳跃”，它的现象是测量值大于实际厚度，为防止这类误差，测临界薄材料时应反复测量核对。