LY5200涂层测厚仪是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、准确地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，可满足多种测量的需要。
TT2600涂层测厚仪是石家庄兰宇科技自主研发、自主知识产权、独特设计的测厚仪。它结合了兰宇TT3100和TT4100的技术优势，重新设计，是国内这款磁性和涡流一体探头的成熟机型。使用更方便。
涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。