TT2200涂层測厚仪采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。 是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。
LY5200涂层测厚仪主要技术指标
使用环境温度：0～40℃
电源：2 节5号电池
测量范围:F1、N1、F1/90----0—1250 um
F400、N400----0—400 um
F10-----0—10000 um
测量误差：F1、N1、F1/90----±（2%H 1）；二点校准精度1％
F400、N400----±（2%H 0.7）二点校准精度1％
F10-----±（2%H 10） 二点校准精度1％
注：H——标称值
涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。