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SOP封装集成电路老化测试夹具(IC测试治具)
该系列夹具适用于SOP封装的片状集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验
作连结之用。产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯。
产品型号及规格;
SOP-8 SOP-16
主要技术指标;
间距;1.27mm
环境温度;-55℃—+155℃
接触电阻;≤0.01欧
工作电压;DC500V
弹片金层厚度;2umAu:lu(镍金)