最新类离子急速移动试验装置
供多层印刷电路板绝缘劣化评价用ECM-100系列
可对离子迁移・绝缘电阻值进行高精度・高信赖性・高效率的评价。
从当今的地球・市场环境来看，省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的，
新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是必须的。
J-RAS公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，
新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。
简介：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流
电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的
现象发生（ION MIGRATION）,并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING）
适用规格：JPCA-ET01-2001
项目
规格・性能・其他
筺体
型式
ECM-100/40-n(n:Channel数)
ECM-100/100-n(n:Channel数)
筺体型式
40CH型（最大4计测组合）
100CH型（最大10计测组合）
筺体寸法
265W×330.3D×405H（突起部除外）
417.4W×330.3D×405H（突起部除外）
消費电力
大约70VA（4计测组合实装時）
大约130VA（10计测组合实装時）
重量
大约16kg（4计测组合实装時）
大约25kg（10计测组合实装時）