GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验低温试验测试目的是在于评价在贮存、工作和拆装操作期间，低温条件对装备的安全性、完整性和性能的影响。
GJB150.4A-2009适用于对军用设备进行低温试验。
一、GJB150.4A-2009军用装备低温试验可能激发的故障：
1、材料的硬化或脆化；
2、材料产生收缩，不同零部件膨胀率不同引起零部件咬死；
3、电子器件的性能发生改变；
4、减振架刚性增加；
5、破裂与龟裂、脆裂、冲击强度改变和强度降低。
二、GJB150.4A-2009军用装备低温试验包括三个程序：
程序一：贮存，程序二：工作，程序三：拆装操作。
三、GJB150.4A-2009军用装备低温试验的测试时间：
低温工作试验：低温温度点达到稳定后，设备带电保持2小时；
低温贮存试验：低温温度点达到稳定后，设备不工作保持24小时；
拆装操作低温试验：低温温度点达到稳定后，至少保持2小时；
四、GJB150.4A-2009军用装备低温试验测试方案：
低温工作试验：-40℃，带电工作2小时，结束后恢复至常温保持2小时，试验期间产品应能正常工作；
低温贮存试验：-55℃，贮存24小时，结束后恢复至常温保持2小时，试验后产品应能正常工作；
五、GJB150.4A-2009军用装备低温试验常规检测依据如下：
GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
GJB367A-2001军用通信设备通用规范
GJB322A-1998军用计算机通用规范
GJB3947A-2009军用电子测试设备通用规范
GJB4.3-1983舰船电子设备环境试验低温试验
GJB4.4-1983舰船电子设备环境试验低温贮存试验
北京可靠性试验实验室通过了国家实验室CNAS、CMA资质认可，实验室获得了国家二级保密资格，可以接受的环境试验委托，实验室通过了GJB150.4A-2009及其他标准授权，可以实施军用设备的低温环境试验并出具国家认可的检测报告。